美國達高特CMX DL+超聲波測厚儀主要功能特點

美國達高特CMX DL+超聲波測厚儀(yi) 主要功能特點

CMX DL+ 測厚儀(yi) 不僅(jin) 有MVX的所有功能，而且還有同時測量金屬基體(ti) 和表麵非金屬塗層厚度的能力。

測量方式（僅(jin) 測量基體(ti) 厚度、同時測量基體(ti) 和塗層的厚度、僅(jin) 測量塗層厚度）

顯示模式（數字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅(jin) cmx>）

增益可調節：低、中、高

增益值可到110dB

自動增益控製（AGC）

時間增益校正（TCG）

探頭自動識別，自動調零和溫度補償(chang)

最大值、最小值顯示

可存儲(chu) 64個(ge) 用戶參數設置

高速掃查（50次/秒）

高達140HZ的脈衝(chong) 重複頻率

B掃描顯示用於(yu) 顯示被測材料的截麵形狀

A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+）

差值測量模式

高速掃查功能可用於(yu) 快速找到壁厚的最小值

上/下限聲光報警功能

數據存貯：可儲(chu) 21000個(ge) 測量厚度值或者16000個(ge) 測量厚度值和B掃描圖形及參數

可通過軟件與(yu) 計算機進行數據交換，方便用戶打印檢測報告

技術參數：