粉塵檢測技術

粉塵檢測技術

TSI AM510粉塵儀(yi)

粉塵檢測是以科學的方法對生產(chan) 環境空氣中粉塵的含量及其物理化學性狀進行測定、分析和檢查的工作。從(cong) 安全和衛生學的角度出發，日常的粉塵檢測項目主要是粉塵濃度、粉塵中遊離二氧化矽含量和粉塵分散度也稱為(wei) 粒度分布的檢測。

1.粉塵濃度測定

礦的粉塵濃度測定主要有濾膜測塵法和快速直讀測塵儀(yi) 測定法。
濾膜測塵法。測塵原理是用粉塵采樣器或呼吸性粉塵采樣器抽取采集一定體(ti) 積的含塵空氣，含塵空氣通過濾膜時，粉塵被捕集在濾膜上，根據濾膜的增重計算出粉塵濃度。
快速直讀測塵儀(yi) 測塵法。用濾膜采樣器測塵是一種間接測量粉塵濃度的方法，由於(yu) 準備工作，粉塵采樣和樣品處理時間比較長，不能立即得到結果，在衛生監督和評價(jia) 防塵措施效果時顯得不方便。為(wei) 了滿足這方麵工作特點的需要，各國研製開發了可以立即獲得粉塵濃度的快速測定儀(yi) 。

2.粉塵遊離二氧化矽的測定

國家標準中規定的測定方法是焦磷酸質量法，也有用紅外分光光度計測定法進行測定。
焦磷酸質量法。在245～250 ℃的溫度下，焦磷酸能溶解矽酸鹽及金屬氧化物，對遊離二氧化矽幾乎不溶。因此，用焦磷酸處理粉塵試樣後，所得殘渣的質量即為(wei) 遊離二氧化矽的量，以百分比表示。為(wei) 了求得更的結果，可將殘渣再用氫氟酸處理，經過這一過程所減輕的質量則為(wei) 遊離二氧化矽的含量。

紅外分光分析法。當紅外光與(yu) 物質相互作用時，其能量與(yu) 物質分子的振動或轉動能級相當時會(hui) 發生能級的躍遷，即分子電低能級過渡到高能級。其結果是某些波長的紅外光被物質分子吸收產(chan) 生紅外吸收光譜。遊離二氧化矽的吸收光譜的波數為(wei) 800cm—1、780cm—1、694cm—1相當於(yu) 波長為(wei) 12．5μm、12．8μm、14．4μm。

粉塵分散度的測定。粉塵分散度分為(wei) 數量分散度和質量分散度。前者是針對具有代表性的一定數量的樣品逐個(ge) 測定其粒徑的方法。其測定方法主要有顯微鏡法、光散射法等。測得的是各級粒子的顆粒百分數。後者是以某種手段把粉塵按一定粒徑範圍分級，然後稱取各部分的質量，求其粒徑分布，常采用離心、沉降或衝(chong) 擊原理將粉塵按粒徑分級，測出的是各級粒子的質量百分數。