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HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(實驗室級)

產品簡介

HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(實驗室級)
的快速光譜輻射計。*美國IESNA LM-79和中國GB/T 24824等標準要求。
可實現LED的瞬態光學特性測量(脈衝(chong) 測量)及穩態光學特性測量(直流測量)。
國家863計劃研究成果,獲美國授權(號:US 7,978,324 B2),“*批自主創新產(chan) 品",“國家重點新產(chan) 品"榮譽。

廠商性質:代理商
更新時間:2025-07-04
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HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(實驗室級)

一、產(chan) 品選型表:


規格

項目

                                                                    HAAS-2000

UV

VIS

UVIS

VIR

UVIR

IR1

IR2

波長測量範圍

200-400nm

380-780nm

200-800nm

350-1100nm

200-1200nm

780-1650nm

1500-2550nm

光學帶寬

1nm

2.0nm

4nm

4nm

5nm

9nm

15nm

波長準確度

±0.1nm

±0.3nm

±0.3nm

±0.3nm

±0.3nm

±0.5nm

±3nm

二、基本工作原理:
        世界*高精度快速光譜輻射計一般由凹麵平均衍射光柵和科學級CCD構成,世界上也隻有極少數製造商能夠提供如此高精度的CCD和光柵。然而實踐證明即便是世界*的商用凹麵平場衍射光柵和世界*的商用科學級CCD,在係統光學耦合匹配方麵仍存在一定不足,遠方公司在高精度快速光譜儀(yi) 方麵積累了豐(feng) 富經驗,改良了CCD與(yu) 光柵的匹配設計,使整個(ge) 係統的光學匹配更趨*,係統所獲得的光譜更純,線性更好。此外,遠方公司采用的雜散光控製技術、寬動態線性技術、精密CCD電子驅動技術和複變矩陣軟件技術,並成功應用了帶通色輪校正技術(BWCT)、分光積分結合技術(SBCT),以及修正的NIST雜散光校正技術等多項技術,整個(ge) 係統實現了*的5.00E-05的極低雜散光水平(在A光源嚴(yan) 格條件下)和0.3%的全動態光度線性性能。關(guan) 鍵技術指標在處地位。

HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(實驗室級)

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