數碼型熔點測定儀XPH-300D

數碼型熔點測定儀(yi) XPH-300D
一、用途
    XPH-300係列偏光熔點測定儀(yi) 是地質、礦產(chan) 、冶金、石油化工、化纖、半導體(ti) 工業(ye) 檢驗等部門和相關(guan) 高等院校高分子等專(zhuan) 業(ye) 常用的專(zhuan) 業(ye) 實驗儀(yi) 器。偏光熔點測定儀(yi) 可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體(ti) 在加熱狀態下的形變、色變及物體(ti) 的三態轉化。偏光熔點測定儀(yi) 采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調節功能，偏光熔點測定儀(yi) 通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀(yi) 表顯示準確、清晰、穩定，對溫度控製可設定程序，設有“上、下"限自動報警裝置，並可隨時檢查設定的溫度數據，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、雲(yun) 母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱台具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀(yi) 是一組具有較完備功能的新型產(chan) 品。
數碼型熔點測定儀(yi) XPH-300D
二、技術參數：
1.目鏡：

2.物鏡：

 
3.放大倍數：40X-630X    係統放大倍數：40X-2600X。
4.聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調
5.起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路，旋轉範圍90°內(nei) 置勃氏鏡，中心、焦距可調
7.補償(chang) 器：λ片（φ18mm，一級紅，光程差551nm）λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）
8.調焦係統：帶限位和調節鬆緊裝置的同軸粗微調，格值為(wei) 0.002mm
9.電光源：6V/20W鹵素燈（亮度可調）

 三、係統簡介
偏光熔點測定儀(yi) 係統是將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發研製成功的一項高科技產(chan) 品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，並能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
 
四、熱台：
1.顯微精密控溫儀(yi) :在 20X 物鏡下工作溫度可達到高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控製；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內(nei) 可維持時間，升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。
  2.顯微加熱平台:可以隨載物台移動、工作區加熱麵積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低於(yu) ± 0.1,起始溫度室溫,工作區加熱使用麵積至少1X1cm,工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC,透光區域 2mm以上，可調,顯示溫度與(yu) 實際溫度誤差不超過 ± 0.2,熱台可以隨載物台移動,熔點測定 溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡
 
五、係統組成
電腦型偏光熔點測定儀(yi) （XPH-300E）：1、偏光顯微鏡 2、熱台3、適配鏡 4、攝像器（CCD） 5、A/D（圖像采集） 6、驅動軟件 7、數據線 8、計算機（選配）
 數碼型偏光熔點測定儀(yi) （XPH-300D）：1、偏光顯微鏡 2、熱台 3、數碼相機光學轉接口 4、數碼相機 
 
六、選購件
1、高像素成像係統      2.偏光顯微鏡分析軟件